インストロンは、ディスプレイ、ボタン、ワイヤー、電池やプリント基板やチップなどのマイクロエレクトロニクス部品ならびにコンポーネントのアプリケーションに対する引張、圧縮、曲げ、剥離、せん断試験を行うための幅広い試験アクセサリーを提供しています。
グリップ類
インストロンでは、リード、ワイヤーや不規則な形状の製品など、幅広い電子機器やマイクロエレクトロニクス部品、完成品の引張試験に適したさまざまなグリップを提供しています。引張グリップは、センターを調節できるフェースがあるものを選定することで、接着剤を張り合わせた引張せん断接着強さ試験を行うことができます。
製品ラインナップ | |||
説明 | 荷重容量 | カタログ番号 | |
空気圧式引張グリップ | 50 N - 10 kN | 2712-04xおよび2712-05xシリーズ | 詳細情報 |
ねじ式サイドアクショングリップ | 100 N - 10 kN | 2710-100 シリーズ | 詳細情報 |
小型空気圧式引張グリップ | 10 N | 2712-101 | 詳細情報 |
空気圧リードプルグリップ | 500 N | 2712-212 | 詳細情報 |
ワイヤープルフック治具 | 10 N | 2860-001 | 詳細情報 |
曲げ治具
3点および4点曲げ治具は、マイクロエレクトロニクスに使用される電子デバイス、および超小型部品の曲げ強度の特性評価を行うことができます。インストロンでは、以下に示す治具に加えて、ディスプレイやデバイスの試験用に、より幅広いスパンを持つさまざまな大型曲げ治具も製造しています。[例を表示]。
製品ラインナップ | ||||
説明 | 荷重容量 | スパン | カタログ番号 | |
5 kN 曲げ治具 | 5 kN | 10 - 194 mm 4 - 188 mm |
2810-400 | 詳細情報 |
JEDEC 9702規格のための4点曲げ治具 | 5 kN | 上部最大:125㎜ 下部最小:225㎜ |
CP111689 | 詳細はお問い合わせください |
ガラスのための3点、4点曲げ治具 | 2 kN | 20 - 200 mm | CP120055 | 詳細情報 |
ミニチュア3点曲げ治具 オプションの4点圧子 |
2 kN 2 kN |
3 - 105 mm | 2810-412 2810-413 |
詳細情報 |
マイクロ3点曲げ治具 | 1 kN 100 N |
3 - 10 mm 1 mm |
2810-411 2810-410 |
詳細情報 |
SEMI G86-0303に基づく高精度マイクロ3点曲げ治具 | 1 kN 1 kN |
3 - 10 mm 3 - 25 mm |
CP101568 CP117370 |
詳細情報 |
接着剤試験治具
剥離やスタッドプル治具を含む接着剤試験治具は、プリント基板上の銅箔、薄膜コーティング、接着剤テープ、半導体ダイ、および他の接着加工部品のような広範囲の積層材料および部品の接着剤の接着強さを試験するために使用されます。
製品ラインナップ | |||
説明 | 荷重容量 | カタログ番号 | |
90度 角度剥離治具 | 1 kN | 2820-035 | 詳細情報 |
可変角度剥離治具 | 1 kN | 2820-036 | 詳細情報 |
小型90度剥離治具 | 1 kN | 2820-034 | 詳細情報 |
小型可変角度式剥離治具 | 1 kN | 2820-033 | 詳細情報 |
スタッドプル治具 スタッドプル試験治具の試験片準備 |
5 kN | 2860-300 2860-301 |
詳細情報 |
段付きバイス | 500 N | 2860-210 | 詳細情報 |
接触子とグリップ
ボタン、ディスプレイなどの電子機器やマイクロエレクトロニクス部品の圧縮試験を行うための様々な接触子が用意されています。これらの接触子は試験システムに容易に追加することができます。
手動クランプステージ
手動クランプステージは、アクチュエータの下にある試験片を正確に配置し、位置合わせするために使用します。これらは、試験システム内のマイクロエレクトロニクス基板や部品を安全に配置するために使用されます。
ねじり付加機能
Torsion Add-On3.0は、シンプルな同時2軸または単独の軸方向およびねじり試験用に設計されています。
製品開発能力を拡張し、製品の実使用下のアプリケーションをシミュレートすることができます。柔軟性のある電子機器、部品、ボタン、ワイヤーなどの性能を試験するのに最適です。
低容量ロードセル
試験結果が最高の品質となることを保証するためにインストロンはすべてのロードセルを自社で設計・製造しています。インストロンのロードセルは、広い測定領域での高精度、高剛性、オフセット荷重への耐性、正確なアライメント、優れたゼロ安定性など、材料試験システム固有の要件を満たすように綿密に設計されています。電子機器やマイクロエレクトロニクス試験では、低荷重での試験に適した低容量ロードセルを幅広く提供しています。
製品ラインナップ | ||
説明 | カタログ番号 | |
5 N静的ロードセル | 2530-5N | 詳細情報 |
10 N静的ロードセル | 2530-10N | 詳細情報 |
50 N静的ロードセル | 2530-50N | 詳細情報 |
100 N静的ロードセル | 2530-100N | 詳細情報 |
500 N静的ロードセル | 2580-500N | 詳細情報 |
1KN静的ロードセル | 2580-1KN | 詳細情報 |
2KN静的ロードセル | 2580-2KN | 詳細情報 |
5KN静的ロードセル | 2580-5KN | 詳細情報 |
恒温槽
多くの電子デバイスおよびマイクロエレクトロニクス部品は、組立工程中および完成品の両方において、極度の温度に耐えることが期待されます。恒温槽を使用すると、-100℃~+350℃の幅広い温度条件下で、製品の性能を特徴付けることができます。
せん断試験治具
電子部品のせん断試験治具は、半導体ダイや表面に取りけられた部品又は基板との間の接続部の特性を測定できるように設計されています。これらの治具はMIL STD883、IPC TM-650、AEC-Q200-006A、ASTMF1269-13などのさまざまな試験規格に従って、接着剤、はんだ、焼結銀、またはその他の接合部の破断を生じさせるために必要なせん断荷重を測定するために使用できます。
製品ラインナップ | |||
説明 | 荷重容量 | カタログ番号 | |
端子強度せん断治具 | 500 N | CP122690 | 詳細情報 |
MIL STD883に基づくせん断試験治具 | 2 kN | CP124648, S4781A, CP127130, S4752A |
詳細情報 |
穿き刺し試験治具
破裂または穿き刺し治具は、包装や布、薄膜、バッテリーのセパレーターフィルム等の接触子の貫通による材料の耐性を判定するために使用されます。材料は通常、一組のクランプリングによって保持され、実際の使用環境下で発生する二軸応力を受けます。
製品ラインナップ | |||
説明 | 荷重容量 | カタログ番号 | |
EN14477に基づく穿き刺し試験治具 直径0.8mmの2つの接触子を含みます 直径1mmの接触子、0.5mmRadius付き |
100 N | CP105780 CP114502 |
詳細情報 |
ASTMF1306用の穿き刺し試験治具 | 10 kN | SI-14110 | 詳細情報 |
破裂/突き刺し治具 | 10 kN | 2810-195 | 詳細情報 |
万能材料試験機(幅拡張型)
万能材料試験機6800 シリーズはアプリケーション要件に合わせて、高さと幅をカスタマイズできます。幅拡張型の試験機は、大型ディスプレイ、フルサイズのノートパソコン、およびフォームやプラスチックなどの電子パッケージ材料の試験に最適です。また、フルサイズのキーボードなど、より大きなデバイスを試験するための自動XYステージを搭載することもできます。